高濃度納米粒度及Zeta電位分析儀可以廣泛應(yīng)用于以下領(lǐng)域
高濃度納米粒度及Zeta電位分析儀是用于粒子表征和分散性評價的儀器。它可以用于測量和分析納米粒子的粒度分布、濁度、流變性質(zhì)以及粒子間的相互作用。儀器通過激光散射技術(shù)來測量粒子的粒度分布。激光束照射在樣品中的納米顆粒上,被散射光通過光學(xué)系統(tǒng)傳導(dǎo)到探測器上。根據(jù)光散射的強度和角度分布,可以計算出顆粒的粒徑大小。激光散射方法有兩種,一種是動態(tài)光散射(DLS)方法,另一種是靜態(tài)光散射(SLS)方法。DLS方法適用于測量較小的納米顆粒,而SLS方法適用于較大尺寸的粒子。接下來,讓我們來...胤煌科技YinHuang Technology 誠邀您參加2023中國(深圳)國際半導(dǎo)體展覽會
胤煌科技YinHuangTechnology誠邀您參加2023中國(深圳)國際半導(dǎo)體展覽會2023年中國(深圳)國際半導(dǎo)體展覽會將于2023年8月29日-8月31日召開,胤煌科技YinHuangTechnology作為受邀展商將亮相展會,歡迎各位朋友來我們展位蒞臨指導(dǎo)。展會相關(guān)信息如下:展會時間:2023年8月29日-31日地點:深圳國際會展中心(新館)展位號:7G105胤煌科技(YinHuangTechnology)是一家專注于為醫(yī)藥、半導(dǎo)體及化工材料等行業(yè)提供檢測分析設(shè)備...電話
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